有些儀器的使用說明書會給出光譜儀的常見故障及排查方法，有些儀器還有自診斷功能，當(dāng)傅里葉紅外光譜儀不能正常工作時(shí)，可先啟動(dòng)儀器自診斷功能，檢查儀器某些器件工作狀況，或者根據(jù)儀器的異常現(xiàn)象，參照儀器使用說明書進(jìn)行排查。
 

　　若發(fā)現(xiàn)是光譜儀硬件損壞，應(yīng)請專業(yè)維修工程師來現(xiàn)場處理，若無法查出故障原因，也應(yīng)及早與維修工程師溝通，及時(shí)傳遞儀器的故障信息·以便工程師來現(xiàn)場維修之前能大概判定故障原因并準(zhǔn)備好所需的備品備件。如果故障原因不是硬件問題，可通過調(diào)整、重新設(shè)置光譜儀參數(shù)等技術(shù)操作解決的，可自行處理。下面為一些常見故障及排査方法，供參考。
 

　　(1)干涉圖能量低，導(dǎo)致信噪比不理想
 

　　可能原因：
 

　　1.光路準(zhǔn)直未調(diào)節(jié)好或非智能紅外附件位置未調(diào)整到正確位置；
 

　　2.紅外光源已損壞或能量已衰竭
 

　　3.檢測器已損壞或MCT檢測器無液氮；
 

　　4.分束器損壞；
 

　　5.各種紅外反射鏡或紅外附件的鏡面太臟；
 

　　6.光闌孔徑太小或信號增益倍數(shù)太?。?br /> 

　　7.圓光路中有衰減器。
 

　　排除方法：
 

　　1.啟動(dòng)光路自動(dòng)準(zhǔn)直程序，如果正在使用非智能紅外附件，則還需要人工準(zhǔn)直；
 

　　2.更換紅外光源；
 

　　3.請維修工程師檢查，必要時(shí)更換檢測器(檢測器損壞很有可能是由于受潮引起，因此更換后應(yīng)注意保持儀器室的干燥，對于MCT檢測器可添加液氮再重新檢查；
 

　　4.請維修工程師檢查，必要時(shí)更換分束器(分束器損壞很可能是由于受潮引起或更換時(shí)碰撞產(chǎn)生裂痕引起，因此更換后應(yīng)注意保持儀器室的干燥，從儀器上取出或裝入時(shí)一定要非常小心)；
 

　　5.請維修工程師清洗；
 

　　6.重新設(shè)置光闌孔徑或信號增益倍數(shù)，使之處于適當(dāng)值；
 

　　7.取下光路中的衰減器。
 

　　(2)光學(xué)臺未能工作，不能產(chǎn)生干涉圖
 

　　可能原因：
 

　　1.分束器未固定好或已損壞；
 

　　2.計(jì)算機(jī)與光學(xué)臺未能連接；
 

　　3.控制電路板損壞；
 

　　4.光譜儀輸出電壓不正常；
 

　　5.操作軟件有問題；
 

　　6.光譜儀室溫度過高或過低；
 

　　7.檢測器已損壞；
 

　　8.He-Ne激光器不工作或能量已較大衰減。
 

　　排除方法：
 

　　1.重新固定分束器，如分束器已損壞，請維修工程師檢查，必要時(shí)更換分束器(分束器損壞很有可能是由于受潮引起或更換時(shí)碰撞產(chǎn)生裂痕引起，應(yīng)注意保持儀器室的干燥，從儀器上取出或裝入時(shí)一定要非常小心)；
 

　　2.檢查計(jì)算機(jī)與光學(xué)臺連接口，鎖緊接口，重新啟動(dòng)光學(xué)臺和計(jì)算；
 

　　3.與維修工程師聯(lián)系，或請維修工程師檢査，必要時(shí)更換控制電路板(更換后，要再次檢査穩(wěn)壓電源工作效率和儀器室電源有無問題)；
 

　　4.檢査光譜儀面板上指示燈，有自診斷程序可啟動(dòng)診斷，檢查輸出電源是否正常，排查故障原因，并與維修工程師聯(lián)系處理方法；
 

　　5.重新安裝操作軟件；
 

　　6.過空調(diào)調(diào)控室溫；
 

　　7.更換檢測器；
 

　　8.檢查He-Ne激光器工作是否正常，及時(shí)請維修工程師維修。
 

　　(3)干涉圖能量過高，導(dǎo)致溢出
 

　　可能原因：
 

　　1.光闌孔徑太大或信號増益倍數(shù)太高；
 

　　2.動(dòng)鏡移動(dòng)速度太慢。
 

　　排除方法：
 

　　1.重新設(shè)置光闌孔徑或信號增益倍數(shù)，使之處于適當(dāng)值；
 

　　2.重新設(shè)置動(dòng)鏡移動(dòng)速度。
 

　　(4)干涉圖不穩(wěn)定
 

　　可能原因：
 

　　1.控制電路板損傷或疲勞；
 

　　2.所使用的MCT檢測器真空度降低或窗口有冷凝水：
 

　　3.測量遠(yuǎn)紅外區(qū)時(shí)樣品室氣流不穩(wěn)定。
 

　　排除方法：
 

　　1.請維修工程師檢查維修：
 

　　2.對MCT檢測器重新抽真空；
 

　　3.待樣品室氣流穩(wěn)定后再測試。